硬體設備 ENA PNA MXA 雙面針座系統 近場EMI 其他 軟體設備

ENA系列網路分析儀

多埠時域量測測試模組
(Agilent Technologies E5071C)


  • 操作範圍20GHz
  • 4個可供量測之測試埠
  • 內建TDR量測功能

精密型電源量測設備
(Agilent B2902A向量網路分析儀)


  • 操作範圍6GHz
  • 2個可供量測之測試埠
微波網路分析儀(廠商)

PNA微波網路分析儀
(Keysight N5227B)


  • 頻率範圍 10 MHz 至 67 GHz
  • 2 埠單信號源及 4 埠雙信號源
  • 信號源與接收衰減器
  • T型偏壓器
  • 脈衝產生器和調變器
信號分析儀

MXA 信號分析儀 ( 特別感謝奇景光電捐贈 )
(Keysight N9020B)


  • 頻率範圍 10 Hz 至 50 GHz
  • 160 MHz 的分析頻寬
  • 0.3%(-50 dB)的 EVM 準確分析複雜信號
  • PathWave X 系列量測應用軟體的單鍵量測功能
直接雙面校正與針測針座系統

新式雙面直接穿透校正器


  • 新式雙面直接穿透校正器取代現有換層結構雙面穿透校正器
  • 建立「所見即所得」
  • 多埠直接校正量測之環境與校正治具,校正量測頻寬可達20GHz以上

特性


  • 適應於待測物的尺寸:1mm x 1mm(Min) ~ 600 mm x 500 mm (Max)
  • 手動式制動拱橋X、Y軸承可移動範圍: 700 mm x 500 mm
  • 氣動式第二層拱橋的up/down 距離: ≧ 30 mm
  • 可水平方向移動之抽換式待測物載具
  • 可放置各式尺寸待測物的可調式夾具
  • 可重置性的(re-arrangement)校準片放置夾具
  • 可放置校準片應用於雙埠或四埠網路分析儀的校正量測或相關小型標準片的比較量測


近場EMI-自動掃描測試系統

EM-I Sight


  • 產品設計階段快速有效且準確地找出EMI雜訊源
  • 3D立體掃描可自動偵測零件高度掃描
  • 可改善新產品電路設計或集成電路功能及雜訊洩漏控制

⾼精密⼩型近場系統


  • 尺⼨120cm(⻑)x120cm(寬)x120cm(⾼)
  • 隔離效能達9GHz
  • 解析度20um之5軸機器⼿臂
  • 可進⾏EMI/EMC及SSN測試

⼤尺⼨多⾯向近場系統 ( 特別感謝奇景光電捐贈 )


  • 尺⼨300cm(⻑)x200cm(寬)x265cm(⾼)
  • 隔離效能達18GHz
  • 解析度25um之6軸機器⼿臂
  • 放置於符合IEC-6100-4-2規範之靜電桌上
  • 可進⾏⼤⾯積X-Y平⾯、X-Z平⾯及Y-Z平⾯量測
  • 可進⾏EMI/EMC、SSN及靜電消散路徑(ESD)測試
其他
晶⽚銲線機 ( 特別感謝南茂科技捐贈 )
電路板雕刻機
雙盤式研磨拋光機
⾼溫烘箱
軟體設備

1.任意結構高頻電路系統三維空間全波電磁場模擬軟體(HFSS)
2.高速訊號電源供應系統設計分析解決方案 Siwave
3.設計環境整合平台 Designer
4.先進設計系統(Advance Design System, ADS)
5.任意結構高頻電路系統三維空間全波電磁場模擬軟體(EM-Pro)
6.信號完整性分析工具 Speed 2000
APITC : 07-5919439     LAB : 07-5917838 中心主任 吳松茂 教授
81148 高雄市楠梓區高雄大學路700號 [email protected]